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半导体参数测试仪与MM探针台/系统集成
更新时间:
2023-03-01
型号:
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866
半导体参数测试仪与MM探针台/系统集成支持二极管、三极管、MOS管等半导体器件以及材料的直流电流-电压(I-V)测量,准静态和中频电容-电压(C-V)测量,时域测量等。
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