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HC功能材料綜合測試系統-國產(chǎn)/定制

簡(jiǎn)要描述:HC功能材料綜合測試系統-國產(chǎn)/定制具有多種測試功能,包括鐵電參數測試、壓電參數測試、熱釋電測試以及絕緣電阻測試等。具體來(lái)說(shuō),它可以完成功能材料的鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測試,并具備動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測試、靜態(tài)電滯回線(xiàn)測試、脈沖測試、疲勞測試、保持力測試、印跡測試、漏電流測試以及變溫測試等功能。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-06-25
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:180

詳細介紹

品牌北京華測產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)
應用領(lǐng)域化工,電子,航天,電氣,綜合


HC功能材料綜合測試系統


HC功能材料綜合測試系統-國產(chǎn)/定制產(chǎn)品簡(jiǎn)介

HC功能材料綜合測試系統-國產(chǎn)/定制可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測試,以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測試。與電學(xué)檢測儀器在通訊協(xié)議、數據庫處理、軟件兼容性做了大量的接口。無(wú)論在軟件與硬件方面,使本套儀器在未來(lái)更易于擴展。更加節省改造時(shí)間與硬件成本。


強大的測試功能

鐵電參數測試功能

Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測試頻率;

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線(xiàn)測試;

PUND 脈沖測試;

Fatigue 疲勞測試;

Retention保持力;

Imprint印跡;

Leakage current漏電流測試;

Thermo Measurement 變溫測試功能

壓電參數測試功能

可進(jìn)行壓電陶瓷的準靜態(tài)d33等參數測試,也可通過(guò)高壓放大器與位移傳感器(如激光干涉儀)動(dòng)態(tài)法測量壓電系數測量。

熱釋電測試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。采用電流法進(jìn)行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數、剩余極化強度對溫度和時(shí)間的曲線(xiàn)。

薄膜材料變溫范圍:-196℃到+600℃;

塊體材料變溫范圍:室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃

介電溫譜測試功能

用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數Q等物理量,同時(shí)還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線(xiàn)。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測試。

熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC

用于研究材功材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉變、玻璃化溫度等等,通過(guò)TSDC技術(shù)也可以比較直觀(guān)的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。

絕緣電阻測試功能

精zhun度的電壓輸出與電流測量,保障測試的品質(zhì),適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數據的檢測。例如:陶瓷材料、硅橡膠測試、PCB、云母、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測試。

高溫四探針測試功能

符合功能材料導體、半導體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測數字式四探針測試儀是運用直線(xiàn)或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準。也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

塞貝克系數/電阻測量系統

適用于半導體,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析;可根據用戶(hù)需求配置薄膜測量選件,低溫選件溫度范圍-100℃到200℃,高阻選件高至10MΩ。

電卡效應測試功能

還可以用于測試材料在寬溫度范圍內的電卡性能。

溫度范圍:-50℃到200℃、熱流時(shí)間范圍:1s-1000s,

zui大電壓可達10kV,

波形:用戶(hù)自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預定義波形。

HC功能材料綜合測試系統-國產(chǎn)/定制

HC功能材料綜合測試系統-國產(chǎn)/定制











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