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  • HCWP華測儀器  高溫介電溫譜儀  絕緣電阻
    HCWP華測儀器 高溫介電溫譜儀 絕緣電阻

    更新時(shí)間:2024-06-25

    型號:HCWP

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    華測儀器 高溫介電溫譜儀 絕緣電阻是為了滿(mǎn)足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設計的。從專(zhuān)業(yè)角度來(lái)說(shuō),其實(shí)就是高溫介電溫譜測量系統。主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學(xué)測試,系統包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測試軟件于一體.
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  • 高溫低電阻測試儀 用于導電功能薄膜材料
    高溫低電阻測試儀 用于導電功能薄膜材料

    更新時(shí)間:2024-04-24

    型號:

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    高溫低電阻測試儀 用于導電功能薄膜材料Labview hcpro 系統搭配 系統開(kāi)發(fā)的 軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設置,符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。高溫低電阻測試儀 可以應用于導電功能薄膜材料
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