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  • 華測高溫四探針測試儀器
    華測高溫四探針測試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-06

    型號:

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    HGTZ-800華測高溫四探針測試儀器器系統搭配Labview系統開(kāi)發(fā)的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設置,符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。
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  • HGTZ-800華測高溫四探針測試儀器
    HGTZ-800華測高溫四探針測試儀器

    更新時(shí)間:2023-08-09

    型號:HGTZ-800

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    華測高溫四探針測試儀器——高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用芯片控制,恒流輸出,結構合理、質(zhì)量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數據,自動(dòng)生成報表。
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  • 華測高溫四探針測試儀器  居里溫度
    華測高溫四探針測試儀器 居里溫度

    更新時(shí)間:2024-06-12

    型號:

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    華測高溫四探針測試儀器 居里溫度采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計算,并帶有溫度補償功能。
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  • HCTZ-2四探針測試儀器
    HCTZ-2四探針測試儀器

    更新時(shí)間:2023-08-29

    型號:HCTZ-2

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    HCTZ-2型數字式四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設計、裝配。具有功能選擇直觀(guān)、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點(diǎn)。
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  • HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀
    HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀

    更新時(shí)間:2024-06-13

    型號:HCTZ-2S

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    HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數據既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統計分析顯示測試結果。
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  • HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀
    HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀

    更新時(shí)間:2023-08-29

    型號:HCTZ-2S

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    HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數據既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統計分析顯示測試結果。
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  • HCTZ-2S華測四探針測試儀
    HCTZ-2S華測四探針測試儀

    更新時(shí)間:2024-06-13

    型號:HCTZ-2S

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    HCTZ-2S華測四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數據既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統計分析顯示測試結果。
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  • HCTZ-2S北京華測四探針測試儀
    HCTZ-2S北京華測四探針測試儀

    更新時(shí)間:2024-06-13

    型號:HCTZ-2S

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    HCTZ-2S北京華測四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數據既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統計分析顯示測試結果。
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